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第 1 章 │ 測量概論




                      1-4          測量方法





                         儀表量測的方法,可分為直接測量、間接測量、比較測量、絕對測量等。

                    1.  直接測量:是指測量時,直接讀取儀表指示值(即為待測量)的方式,例如:

                       以數位電表測量電阻值,只需選擇歐姆檔,當探棒接觸待測電阻時,在指示螢
                       幕上讀出數值,再配合檔位倍數,即是待測電阻值。屬於最常用的測量方法,

                       測量結果與儀表的特性有關。必須取得適當的儀表,同時正確操作才能得到正
                       確的數值。

                    2.  間接測量:是指先測量其他與待測量相關的物理量,再藉以求出待測量數值的

                       方式。一般用在無法直接測量的情形下,則可應用這樣的測量方法取得待測值。
                       例如:欲測量電路中某元件電阻值,在接電壓、電流的情況下,無法使用電表

                       直接量測,則可先測量待測物兩端之電壓值 V 與通過待測物電流值 I,再利用
                                     V
                       歐姆定律 R=         ,計算出電阻值。待測量的數值除受到儀表的誤差影響外,在
                                     I
                       計算的過程中誤差隨著計算的複雜程度提高,也無法得到很高的準確度。

                    3.  比較測量:是以相同性質的物理量互相比較,再依其比值求出待測量數值的方

                       式。以圖 1-2 使用惠斯登電橋(Wheatstone bridge)測量電阻為例,電橋上檢
                       流計指針的指示僅代表比較的狀態(電橋的平衡與否),而非特定的數值,如

                       此可避免指針本身因為彈簧張力、磁場等因素造成指示值的誤差,也可避免電
                       路特性改變造成的誤差,待測量幾乎只受到用來比較的物理量的影響,可以有

                       效提高準確度。但因為用來做比較的物理量本身的誤差還是會影響測量的結
                       果,因此應儘可能選用誤差較低且穩定度高的比較量,像是標準電阻。
















                                               圖 1-2 惠斯登電橋電路及其測量儀表
                                                  (http://www.mcpsh.com)
                                                                                                            1-9
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